結構確證
結構確證
單晶結構解析
結構決定性質，為了確定化合物的結構，20世紀以來紅外、紫外、質譜、核磁、 單晶衍射等技術手段紛紛登場。 而在這些技術中，單晶X-ray衍射分析（SC-XRD）為探究化合物結構提供了一種精準的解決方案。
單晶X射線衍射是確定晶體的原子和分子結構的分析技術，眾所周知，晶體結構會導致入射X射線束向多個特定方向衍射。通過測量這些衍射光束的角度和強度，可以生 成晶體內電子密度的三維圖，進而可以確定晶體中原子的平均位置以及它們的化學鍵，晶體學無序和各種其他信息。
單晶項目方案
培養單晶常規的方法主要包括緩慢揮發，氣液滲透，緩慢降溫與液面擴散。
數據收集性能優異，高分辨率，高亮度的單晶衍射儀是我們得到高質量的衍射數據的保證。
結構解析結構解析可以大致分為兩步：結構初解與結構精修，最終獲得空間全部原子的精確坐標及位移參數。
絕對構型驗證晶云目前同時采用Flack方法與Hooft方法對單晶結構數據中絕對構型判定進行驗證，保證絕對構型確證的準確性。
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MicroED 結構解析
微晶電子衍射（MicroED）是一種新穎的3D衍射技術。
MicroED與X射線衍射（XRD）的不同之處在于它使用電子束從目標樣品中獲得衍射圖樣。將樣品相對于入射電子束傾斜，可以從多個晶體取向獲得衍射圖樣。 因此，晶體結構可以在三個維度上映射，通過衍射數據縮減和結構確定的步驟，可以在三個維度上繪制晶體結構以及分子結構。
